產品簡介：
LPI（laser photoluminescence inspection）是由波粒光電自主研發和生產用于光伏光致發光缺陷檢測的一體化成像組件。其原理是利用完好的硅結構因激光誘導產生近紅外熒光，并通過近紅外感光相機來捕捉熒光成像，通過光強的變化實現膜后、印刷后硅片內部隱裂、虛印、斷柵、黑斑和表面臟污劃痕等諸多缺陷元素的一次性成像。LPI組件內部集成了半導體激光器、精密恒流源驅動、高均勻性線光斑鏡頭和進口工業相機。尺寸小巧，便于與工業自動化產線快速集成，實現同步、高速和高分辨率成像，相機最高采集頻率可以達到40KHz。
可檢電池片缺陷類型：
1、隱裂
2、同心圓
3、黑斑
4、虛印
5、斷柵
6、黑斑
7、劃痕
8、臟污
9、皮帶印
10、石墨舟印
11、霧狀發黑
產品特點：
1、光源與相機標定集成一體，便于現場維護
2、可根據用戶不同的SDK選配對應的近紅外感光相機